能量色散光譜儀EDX4500，天瑞儀器 原產地：江蘇昆山 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U） 測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體 探測器：SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

EDX4500 X熒光光譜儀,天瑞儀器 技術參數 1、 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。 2、 分析含量一般為1ppm到99.9％。 3、 有害元素檢出限比普通的臺式X熒光光譜儀有極大的提高。 4、 多次測量重復性可達0.1％。 5、 工作穩(wěn)定性為0.1％。 6、 溫度適應范圍為15℃30℃。 7、 電源。交流220V±5V。建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

X熒光礦石元素分析儀 技術指標 測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U） 測量時間：60秒-200秒 同時分析元素：一次性可測幾十種元素 能量分辨率為：（140±5）eV 管壓：5KV-50KV 管流：50uA-1000uA 元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

銅材含量分析儀采用美國新型的Si-pin探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數據分析且維護成本低。采用自主研發(fā)的SES信號增強處理系統(tǒng)，有效提高測量的靈敏度，讓測量更。一鍵式自動測試，使用更簡單，操作更方便，界面更人性化。七種光路校正準直系統(tǒng)，能根據不同樣品自動切換。多重防輻射泄露設計，輻射防護屬于同類產品。

EDX4500 X熒光光譜儀 應用領域 鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）