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主營產(chǎn)品:光譜儀,X射線鍍層測厚儀,ROHS十項檢測分析儀,ROHS2.0測試儀,X熒光測厚儀,手持式合金光譜儀,ROHS設(shè)備,電鍍鍍層測厚儀,天瑞ROHS檢測儀,鄰苯本甲酸酯測試儀
P產(chǎn)品分類RODUCT CATEGORY
描述:天瑞EDX1800B環(huán)保分析儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單,現(xiàn)市場上比較常見,其技術(shù)原理:特征X射線 放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內(nèi)層電子。
天瑞EDX1800B環(huán)保分析儀 分析原理
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對簡單。
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特征信息。能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:Q=kE式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術(shù),并對獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
天瑞EDX1800B環(huán)保分析儀 技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%RoHS指令規(guī)定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)檢測限達(dá)1PPM;測量時間:60-200秒溫度適應(yīng)范圍為15℃30℃電源:交流220V±5V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)三維自由度超大的樣品腔設(shè)計,樣品腔尺寸:Φ450 x 90 mm一次可同時分析24個元素重量:110 kg
EDX1800B檢測儀性能
半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷自動濾光片選擇多種準(zhǔn)直器自動自由切換三重安全保護(hù)模式相互獨立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動開關(guān)軟件定位樣品平臺,小位移 0.01 mm自動切換準(zhǔn)直器和濾光片,分別針對不同樣品特別開發(fā)。
138-0228-4651
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