正是這些特點 讓X射線鍍層測厚儀在眾多行業(yè)得到應(yīng)用

　　X射線鍍層測厚儀是檢測電鍍層厚度常用儀器。X射線鍍層測厚儀作為一種測量鍍層厚度的精密儀器，在整個電鍍層厚度品質(zhì)檢測中占非常重要的地位。它在電鍍層厚度控制,品質(zhì)是否達到要求,鍍層是否符合客戶要求及成本控制方面,X射線鍍層測厚儀均可完成。
 

　　X射線鍍層測厚儀的原理：
 

　　若一個電子由軌道游離，則其他能階的電子會自然的跳他的位置，以達到穩(wěn)定的狀態(tài)，此種不同能階轉(zhuǎn)換的過程可釋放出能量，即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。原子的特性由原子序來決定，亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目，即特定的X-射線能量與原子序間的關(guān)系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。 特定的X-射線可由比例計數(shù)器來偵測。當(dāng)輻射撞擊在比例器后，即轉(zhuǎn)換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質(zhì)所發(fā)出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。
 

　　使用X射線鍍層測厚儀將被測物置于儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產(chǎn)生，而檢測系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。在有些情況，如：印刷線路板上的IC導(dǎo)線，接觸針及導(dǎo)體的零件等測量要求較高 ,一般而言，測量鍍膜厚度基本上需符合下述的要求：
 

　　不破壞的測量下具高精密度。
 

　　較小的測定面積。
 

　　中間鍍膜及素材的成份對測量值不產(chǎn)生影響。
 

　　同時且互不干擾的測量上層及中間鍍膜 。
 

　　同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。