隨著技術(shù)的日益，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，
X射線鍍層測厚儀采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。下面我們來說說哪些因素會影響的測量結(jié)果。
1.基體金屬厚度
每一種X射線鍍層測厚儀都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。具體臨界值可以參考表格。
2.基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
3.基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
4.邊緣效應(yīng)
X射線鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
5.曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
以上就是會影響X射線鍍層測厚儀測量結(jié)果的因素，希望能幫助大家更好地使用儀器。
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